Z4-3001-755粉狀體檢測射頻導納料位計
簡要描述:Z4-3001-755粉狀體檢測射頻導納料位計它可以檢測所有物料而不受物料的密度、顆粒大小、化學成分、沉積粘度和導電特性等參數(shù)變化的影響。廣泛地應用于液體、粉體、漿體、固體等多種物料的控制。通用性強:適用于各種場合,可檢測顆粒、飛灰、導電、非導電液體、粘稠物料;
產(chǎn)品型號:
所屬分類:智能射頻導納料位計
更新時間:2023-02-14
廠商性質:生產(chǎn)廠家
Z4-3001-755粉狀體檢測射頻導納料位計
結構組成:
射頻導納物位計主要由檢測部分和變送部分組成,檢測部分包括探頭、保護套外殼等;變送部分包括振蕩緩沖電路、頻率變換及掛料處理電路、誤差修正放大器、信號解調器、調制驅動放大器、濾波阻尼環(huán)節(jié)、電壓限制及電壓電流轉換電路等。根據(jù)電橋原理,由于液位升高而加大的電容使電橋失去平衡,同時正比于電橋不平衡度的解調器輸出電壓,經(jīng)濾波放大、輸出阻尼、電壓/電流轉換后,輸出與物位成正比的4-20mA電流信號。無論是射頻電容物位計或射頻導納物位計都能準確測量介質的物位,但與普通射頻電容物位計相比,射頻導納物位計更適合測量料位,因為它可以較好地處理掛料對料位測量的影響。
測量原理:
射頻導納是一種從電容式發(fā)展起來的、防掛料、更可靠、更準確、適用性更廣的新型物位控制技術,是電容式物位技術的升級。所謂射頻導納,導納的含義為電學中阻抗的倒數(shù),它由電阻性成分、電容性成分、感性成分綜合而成,而射頻即高頻無線電波譜,所以射頻導納可以理解為用高頻無線電波測量導納。儀表工作時,儀表的傳感器與灌壁及被測介質形成導納值,物位變化時,導納值相應變化,電路單元將測量導納值轉換成物位信號輸出,實現(xiàn)物位測量。
對于連續(xù)測量,射頻導納技術與傳統(tǒng)電容技術的區(qū)別除了上述講過的以外,還增加了兩個很重要的電路,這是根據(jù)導電掛料實踐中的一個很重要的發(fā)現(xiàn)改進而成的。上述技術在這時同樣解決了連接電纜問題,也解決了垂直安裝的傳感器根部掛料問題。鎖增加的兩個電路是振蕩器緩沖器和交流變換斬波器驅動器。
對一個強導電性被測介質的容器,由于被測介質是導電的,接地點可以被認為在探頭絕緣層的表面,對變送器來說僅表現(xiàn)為一個純電容。隨著容器排料,探桿上產(chǎn)生掛料,而掛料是具有阻抗的。這樣以前的純電容現(xiàn)在變成了由電容和電阻組成的復阻抗,從而引起兩個問題。
*個問題是液位本身對探頭相當于一個電容,它不消耗變送器的能量,(純電容不耗能)。但掛料對探頭等效電路中含有電阻,則掛料的阻抗會消耗能量,從而將振蕩器電壓拉下來,導致橋路輸出改變,產(chǎn)生測量誤差。我們在振蕩器與電橋之間增加了一個緩沖放大器,使消耗的能量得到補充,因而不會降低加在探頭的振蕩電壓。
另一個問題是對于導電被測介質,探頭絕緣層表面的接地點覆蓋了整個被測介質及掛料區(qū),使有效測量電容擴展到掛料的頂端。這樣便產(chǎn)生掛料誤差,且導電性越強誤差越大。但任何被測介質都不是*導電的。從電學角度來看,掛料層相當于一個電阻,傳感元件被掛料覆蓋的部分相當于一條由無數(shù)個無窮小的電容和電阻元件組成的傳輸線。根據(jù)數(shù)學理論,如果掛料足夠長,則掛料的電容和電阻部分的阻抗相等。因此根據(jù)對掛料阻抗所產(chǎn)生的誤差研究,又增加一個交流驅動器電路。該電路與交流變換器或同步檢測器一起就可以分別測量電容和電阻,從而排除掛料的影響。
這些,多參量的測量,是須得基礎,交流鑒相采樣器是實現(xiàn)的手段。由于使用了上述三項技術,使得射頻導納技術在現(xiàn)場應用中展現(xiàn)出非凡的生命力。
Z4-3001-755粉狀體檢測射頻導納料位計
湖北開航公司部分產(chǎn)品:
射頻導納料位計Z4-3002-766
Z4-3002-764
Z4-3002-763
Z4-3002-762
Z4-3002-761
Z4-3002-760
Z4-3002-758
Z4-3002-757
Z4-3002-756
Z4-3002-755
Z4-3002-754
Z4-3002-701
Z4-3002-327
Z4-3002-301